金屬顯微組織檢驗又稱金相檢驗，是通過光學(xué)金相顯微鏡或電子顯微鏡觀察分析金屬材料微觀組織的檢測方法，相關(guān)操作遵循GB/T 13298-2015標(biāo)準 [1]。該方法涵蓋晶粒度測定等項目，其中晶粒度評定采用腐蝕法與標(biāo)準圖譜對比 [3]。檢驗中需根據(jù)材質(zhì)選用硝酸酒精溶液 [4]、Murakami試劑進行浸蝕，特殊組織處理可采用電解拋光 [2]。應(yīng)用領(lǐng)域包括焊接檢驗、鑄鐵檢驗、熱處理質(zhì)量評定及鈦合金缺陷鑒別 [5]。硬質(zhì)合金檢驗需使用≥1500倍顯微鏡，試樣制備含冷/熱鑲樣、逐級精磨及多步驟拋光流程 [2]2022年奧林巴斯科學(xué)事業(yè)部拆分，成立EVIDENT公司后，繼續(xù)深耕金相顯微鏡產(chǎn)品。江蘇重型金相顯微鏡廠家供應(yīng)

光學(xué)系統(tǒng)：1、物境倍數(shù)：5X 10X 20X 50X 100X2、目鏡倍數(shù)：10X3、視場數(shù)：20、224、物鏡轉(zhuǎn)盤：5孔5、觀察功能：明場、暗場、簡易偏光、微分干涉6、光源：LED光源金相顯微鏡7、可擴展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機、攝像頭、圖像分析軟件） [1-2]金相顯微鏡：1、金相顯微鏡2、適配鏡 3、攝像頭（CCD） 4、圖像采集軟件 5、計算機 [1-2]金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。啟東好的金相顯微鏡售價轉(zhuǎn)動粗調(diào)焦手輪，降低載物臺，使試樣觀察表面接近物鏡；

2022年奧林巴斯科學(xué)事業(yè)部拆分**，成立EVIDENT公司后，繼續(xù)深耕金相顯微鏡產(chǎn)品。作為材料科學(xué)和工業(yè)檢測領(lǐng)域的重要工具，奧林巴斯金相顯微鏡具備一系列***的特點和特性，這些特點使其能夠高效、準確地完成從樣品觀察到數(shù)據(jù)分析的全過程。高分辨率成像：奧林巴斯金相顯微鏡采用高質(zhì)量的光學(xué)元件和先進的成像技術(shù)，能夠提供高清晰度的圖像，確保用戶可以觀察到樣品的細微結(jié)構(gòu)和特征。多樣化的觀察模式：支持多種觀察模式，包括明場觀察、暗場觀察、偏光觀察、微分干涉觀察等，滿足不同樣品和實驗條件下的觀察需求。

是用可見光作為照明源的一種顯微鏡。分立式和臥式,見圖1。它們都包括光學(xué)放大、照明和機械三個系統(tǒng)。放大系統(tǒng)是影響顯微鏡用途和質(zhì)量的關(guān)鍵。主要由物鏡和目鏡組成。其光路見圖2。顯微鏡的放大率為：公式式中M顯表示顯微鏡放大率；M物、M目和f物、f目分別表示物鏡和目鏡的放大率和焦距；L為光學(xué)鏡筒長度；250為明視距離。長度單位皆為mm。分辨率和象差透鏡的分辨率和象差缺陷的校正程度是衡量顯微鏡質(zhì)量的重要標(biāo)志。在金相技術(shù)中分辨率指的是物鏡對目的物的**小分辨距離。由于光的衍射現(xiàn)象，物鏡的**小分辨距離是有限的。德國人阿貝(Abbé)對**小分辨距離(d)提出了以下公式：當(dāng)載物臺墊片圓孔中心的位置遠離物鏡中心位置時不要切換物鏡，以免劃傷物鏡。

早在1841年，俄國人阿諾索夫(П．П．Аносов) 就在放大鏡下研究了大馬士革 鋼劍上的花紋。至1863年,英國人索比(H.C.Sorby)把巖相學(xué)的方法，包括試樣的制備、拋光和腐刻等技術(shù)移植到鋼鐵研究，發(fā)展了金相技術(shù)，后來還拍出一批低放大倍數(shù)的珠光體和其他組織的金相照片。索比和他的同代人德國人馬滕斯(A.Martens)及法國人奧斯蒙(F. Osmond)的科學(xué)實踐，為現(xiàn)代光學(xué)金相顯微術(shù)奠定了基礎(chǔ)。至20世紀初，光學(xué)金相顯微術(shù)日臻完善，并普遍推廣使用于金屬和合金的微觀分析，迄今仍然是金屬學(xué)領(lǐng)域中的一項基本技術(shù)。.非專業(yè)人員不要調(diào)整照明系統(tǒng)（燈絲位置燈），以免影響成像質(zhì)量。如東新款金相顯微鏡維修價格

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干涉顯微術(shù)圖7 光學(xué)金相顯微術(shù)示意如圖7。其特點是在顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)中增加了特殊設(shè)計的光學(xué)裝置，使光線 通過時被分成兩束，一束光通過物鏡，在試樣上反射返回，重新穿過光束分離器進入目鏡；另一束光從一個比較板上反射進入目鏡。這兩束反射光在光束分離器上相遇時會發(fā)生干涉，利用所產(chǎn)生的干涉條紋的形狀，可以判斷輕微浮凸的空間形態(tài)，并可根據(jù)條紋位移量和相鄰條紋間距之比，定量給出浮凸高度。多光束干涉的發(fā)展，使干涉條紋更為窄銳，從而提高了測量高度差的靈敏度（見馬氏體相變中的圖3、圖6）。江蘇重型金相顯微鏡廠家供應(yīng)

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