模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告。上海頂策科技有限公司提供高質量、高效率、低成本HTOL測試方案。可靠性測試事業部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，可以滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發在線實時單顆監測技術，大幅度提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。上海頂策科技有限公司智能一體化HTOL測試機TH801可以為芯片HTOL測試節省更多時間、FA成本。長寧區HTOL測試機24小時服務

自有發明專利的智能HTOL系統，自主研發在線實時單顆監測技術，可靈活配置芯片工作狀態，并施加信號，非常方便HTOLSetup，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據，確保芯片處于正常HTOL狀態，保證HTOL測試質量，通過監測數據，可實時發現問題并介入分析，大幅度提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。崇明區智能HTOL測試機上海頂策科技有限公司可靠性測試服務，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性。

導致偏移量發生的原因是在htol可靠性驗證過程中閃存參考單元會有空穴丟失，而丟失的空穴是在制作閃存的生產工藝過程中捕獲(引入)的，短期內無法消除。而閃存產品從工程樣品(es，engineeringsample)到客戶樣品(cs，customersample)的時間不容延期。從測試端找出解決方案非常迫在眉睫。本發明實施例的閃存htol測試方法對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。

本發明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除的電荷分布示意圖；發明實施例的閃存參考單元經過編譯和擦除后的電荷分布示意圖。圖8為本發明實施例的閃存參考單元經過編譯和擦除循環后再進行htol測試的輸出電流iref分布圖。其中，具體標號如下：100-襯底；101-源極；102-漏極；103-隧穿氧化層；104-浮柵；105-柵間介質層；106-控制柵；107-側墻；具體實施方式本發明提供一種閃存htol測試方法，以下結合附圖和具體實施例作進一步詳細說明。根據下面說明，本發明的優點和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精細的比例，*用以方便、明晰地輔助說明本發明實施例的目的。圖1為本發明實施例的閃存htol測試方法流程圖，上海頂策科技有限公司可靠性測試部，提供HTOL方案設計制作。

芯片HTOL測試一條龍服務，可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告，上海頂策科技有限公司提供高質量、高效率、低成本HTOL測試方案。自主研發在線實時單顆監測技術，大幅度提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。上海頂策科技提供可靠性測試整體解決方案，包括各類可靠性測試設備，滿足各類芯片的測試需求。靜安區HTOL測試機電話

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    AEC-Q1001.對于非易失性存儲器樣品，在HTOL之前進行預處理：等級0：150℃，1000h等級1：125℃，1000h等級2：105℃，1000h等級3：85℃，1000h2.各等級溫度對應的時間是比較低要求，通過計算或測量獲取HTOL的Tj（結溫）；3.當進行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時的Tj，那么Tj可以代替Ta（環境溫度），但是要低于***比較大Tj；4.如果Tj被用來作為HTOL的條件，在Ta和1000h條件下的器件需要使用；(max)需要保證交直流參數。————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 長寧區HTOL測試機24小時服務