電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗，又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特征X射線。電子探針的功能主要是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。其原理是用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征x射線，分析特征X射線的波長（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類（定性分析），分析X射線的強度，則可知道樣品中對應元素含量的多少（定量分析）。探針卡應用在IC尚未封裝前，針對裸晶系以探針做功能測試，篩選出不良品、再進行之后的封裝工程。青浦區標準探針銷售廠家

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器， [1]可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線，測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術基礎上的，該儀器實質上就是這兩種儀器的科學組合。奉賢區挑選探針按需定制分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。

③末端標記法（又叫尾標）。利用末端轉移酶可進行“尾標”，尾標適用于寡核苷酸探針標記，寡核苷酸探針多用于核酸“點”突變的檢測，該探針可用核酸合成儀人工合成，克隆出的探針一般較長，特異性好，標記量大，雜交的檢出信號強。探針合成的注意事項①合成探針的長短，一般在20~50個核苷酸之間。合成過長成本高，且易出現聚合酶合成錯誤，雜交時間長，合成太短則特異性下降。②堿基組成G-C應含40%~60%，一種堿基連續重復不超過4個，以免非特異性雜交產生。③探針自身序列內應無互補區域，以免產生“發夾”結構，影響雜交。總之，一個好的探針**終要在實踐中才能加以確認。

2.手機偽隨機mac某些手機品牌對WiFi探針技術進行了防護,在未連接WiFi的情況下手機廣播的是隨機mac,即使被WiFi探針設備捕獲也無法關聯到用戶正確信息。這種偽隨機mac可避免無任何操作下WiFi探針對當前環境的被動監測,iOS 9.0以上版本也有類似機制。3. WiFi誘導但偽隨機mac機制并不能完全保證用戶網絡安全,因為WiFi協議默認當用戶連接過某個WiFi后,再次發現同名**WiFi即可自動連接。處于WiFi連接狀態的真實手機mac地址即可被捕獲,設備廠家則利用協議機制誘導用戶連接偽造WiFi,從而捕獲到用戶手機mac信息。原子序數12至22的元素要在真空下進行成分測定，原子序數12以內的元素需要增添一些特殊設備才能分析。

基因探針，即核酸探針，是一段帶有檢測標記，且順序已知的，與目的基因互補的核酸序列(DNA或RNA)。基因探針通過分子雜交與目的基因結合，產生雜交信號，能從浩瀚的基因組中把目的基因顯示出來。根據雜交原理，作為探針的核酸序列至少必須具備以下兩個條件：①應是單鏈，若為雙鏈，必須先行變性處理。②應帶有容易被檢測的標記。它可以包括整個基因，也可以**是基因的一部分；可以是DNA本身，也可以是由之轉錄而來的RNA。DNA探針根據其來源有3種：一種來自基因組中有關的基因本身，稱為基因組探針（genomic probe）；另一種是從相應的基因轉錄獲得了mRNA，再通過逆轉錄得到的探針，稱為cDNA探針（cDNA probe）。與基因組探針不同的是，cDNA探針不含有內含子序列。此外，還可在體外人工合成堿基數不多的與基因序列互補的DNA片段，稱為寡核苷酸探針。后期生產的儀器，可作X射線背散射照相、照相。徐匯區挑選探針推薦貨源

1953年前蘇聯制成了X射線微區分析儀，以后英、美等國陸續生產。青浦區標準探針銷售廠家

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。青浦區標準探針銷售廠家

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