杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-04
芯片需要高溫/低溫測(cè)試主要是為了模擬極端環(huán)境,驗(yàn)證芯片在不同溫度下的穩(wěn)定性和可靠性。
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