在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析，更會中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失，更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實的數(shù)據(jù)基石。 Mapping Inkless實現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統(tǒng)標記對先進封裝的干擾。山東半導(dǎo)體PAT平臺

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。青海自動化GDBCPAT模塊與GDBC算法協(xié)同區(qū)分隨機噪聲與系統(tǒng)性缺陷，提升篩選精確度。

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類型靈活配置，適配消費級至前沿芯片需求。

良率管理的目標是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗證，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關(guān)鍵指標設(shè)置動態(tài)防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)推動YMS成為行業(yè)提質(zhì)增效的基礎(chǔ)設(shè)施。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場競爭力，降低客戶投訴率。可視化MappingOverInk處理的目的

Mapping Over Ink處理提升車規(guī)級芯片的長期可靠性，滿足嚴苛環(huán)境要求。山東半導(dǎo)體PAT平臺

半導(dǎo)體設(shè)計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計風(fēng)險，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據(jù)；靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。山東半導(dǎo)體PAT平臺

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團結(jié)一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！