可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數字化儀），使其從“數字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形，實現全功能閉環驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC，無需外接多臺設備，節省空間與成本。低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。福州絕緣電阻測試系統

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統（以GT600為**）雖主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應延遲與帶寬；使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 離子遷移測試系統研發中心國磊GT600SoC測試機可以進行電源門控測試即驗證PowerGating開關的漏電控制效果。

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執行多任務調度、通信芯片處理完整5G協議棧，這些測試序列動輒數百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數據，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現“全速連續運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現偶發性失效。對于需要長時間穩定性測試的車規芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環序列。這一參數確保杭州國磊GT600能應對未來更復雜的芯片驗證需求。

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽，支持數字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發整套測試硬件，***提升測試系統的復用率與投資回報率。國磊GT600可用于測量電源上電時序（PowerSequencing），確保多域電源按正確順序激發，避免閂鎖效應。

AI芯片市場競爭激烈，測試成本直接影響產品定價與市場滲透率。GT600支持高達512 Sites的并行測試能力，意味著單次測試可同時驗證數百顆芯片，將單位測試時間壓縮至傳統設備的1/10以下。結合其高穩定性與自動化軟件平臺，整體測試成本可降低70%以上。這一優勢對年出貨量達百萬級的邊緣AI芯片、智能攝像頭主控、機器人控制器等產品尤為關鍵。杭州國磊通過GT600構建的“超級測試流水線”，不僅提升了國產芯片的量產效率，更增強了中國AI硬件在全球市場的價格競爭力，真正實現“測得起、賣得快、走得遠”。國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。廣州PCB測試系統廠家直銷

先進節點（如28nm及以下）漏電更敏感，國磊GT600的PPMU可測nA級電流，滿足FinFET等工藝的低功耗驗證需求。福州絕緣電阻測試系統

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 福州絕緣電阻測試系統