ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規級場景，保障晶圓表面完整性。河南MappingOverInk處理軟件

面對國產半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統成為打通數據孤島、實現質量閉環的關鍵工具。系統自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數據，通過內置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續分析基于高可信度數據源。在標準化數據庫支撐下，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統，助力構建中國半導體軟件生態。晶圓MappingOverInk處理方法有哪些工藝工程師基于GDBC聚類結果優化制程參數，提升制造良率水平。

良率管理系統的價值不僅在于技術實現，更在于對半導體企業關鍵痛點的精確回應。當設計公司或制造工廠面臨測試數據分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備，自動完成從數據采集到異常過濾的全流程治理。標準化數據庫為多維度分析奠定基礎，使時間趨勢、區域對比、參數關聯等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結合FT與CP數據偏差，可追溯封裝環節的潛在風險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標達成提供量化依據。報表系統支持靈活配置與多格式導出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，推動YMS成為國產半導體提質增效的可靠伙伴。

分散在不同Excel表格或本地數據庫中的測試數據，往往難以跨項目調用和對比。YMS通過構建標準化數據庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構數據，按產品型號、測試階段、時間、區域等維度統一歸檔，形成結構清晰、索引完備的數據資產池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數聯動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數據源。跨部門協作時，設計、工藝與質量團隊可基于同一套數據開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業經驗，使YMS成為企業構建數據驅動文化的基礎設施。工藝波動引發的微小偏移通過PAT統計模型精確捕捉，實現早期預警。

良率管理服務的價值體現在全生命周期的技術陪伴與問題解決能力。YMS系統不僅提供數據采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術咨詢、售中合理化方案定制與售后標準化服務，確保系統與客戶實際流程深度契合。當客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設備后，系統自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數據，完成異常檢測與結構化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區域缺陷分布及WAT/CP/FT參數關聯性，快速制定改進措施。SYL與SBL的自動計算與閾值監控，進一步提升過程穩定性。靈活的報表工具支持多格式導出，打通從車間到決策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務體系支撐YMS落地，持續助力半導體企業邁向高質量發展。Mapping Inkless避免油墨標記對先進封裝工藝的干擾，保持晶圓潔凈度。河南MappingOverInk處理軟件

Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設備數據格式，支持跨平臺數據無縫對接。河南MappingOverInk處理軟件

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統通過自動接入各類Tester平臺產生的多格式測試數據，完成高精度的數據解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實可靠。系統依托標準化數據庫，支持按時間、區域、批次等多維度進行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發與制造團隊快速響應異常。結合WAT、CP、FT等關鍵節點數據的變化，可深入剖析工藝穩定性或設計兼容性問題。SYL與SBL參數的自動計算與卡控，為芯片級質量提供雙重保障。報表工具支持按模板生成周期報告，并導出為常用辦公格式，提升信息流轉效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導體系統軟件研發，其YMS系統正成為國產芯片企業提升產品競爭力的關鍵助力。河南MappingOverInk處理軟件

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！