芯片制造對(duì)良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)接入各類Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控，為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競(jìng)爭力的關(guān)鍵助力。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。河南可視化MappingOverInk處理軟件

半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測(cè)試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對(duì)產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測(cè)試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識(shí)別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測(cè)試廠對(duì)提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對(duì)高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 江西半導(dǎo)體Mapping Inkless參數(shù)漂移趨勢(shì)在PAT分析中清晰呈現(xiàn)，實(shí)現(xiàn)早期風(fēng)險(xiǎn)預(yù)警。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫中的測(cè)試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對(duì)比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號(hào)、測(cè)試階段、時(shí)間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲(chǔ)不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析、SYL/SBL卡控等高級(jí)功能提供一致數(shù)據(jù)源。跨部門協(xié)作時(shí)，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)文化的基礎(chǔ)設(shè)施。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭力，降低客戶投訴率。

良率波動(dòng)若不能及時(shí)干預(yù)，可能造成數(shù)百萬級(jí)的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程，即時(shí)采集并清洗來自多種測(cè)試平臺(tái)的異構(gòu)數(shù)據(jù)，構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢(shì)到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián)，并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動(dòng)態(tài)閾值，在指標(biāo)異常時(shí)自動(dòng)預(yù)警，實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種“實(shí)時(shí)感知—智能歸因—主動(dòng)干預(yù)”的能力，將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)升級(jí)為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。失效Die的空間分布特征是判斷工藝問題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。黑龍江GDBC服務(wù)商

高價(jià)值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。河南可視化MappingOverInk處理軟件

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對(duì)晶圓測(cè)試（CP）階段生成的Mapping圖進(jìn)行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項(xiàng)常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價(jià)值在于運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法，識(shí)別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進(jìn)質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴(yán)格遵循AEC-Q100等車規(guī)級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，不僅提供標(biāo)準(zhǔn)PAT功能，更針對(duì)高可靠性應(yīng)用的嚴(yán)苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測(cè)試的缺陷檢出率，將早期失效風(fēng)險(xiǎn)遏制在封裝之前。這直接帶來了測(cè)試質(zhì)量的飛躍與測(cè)試成本的優(yōu)化，助力客戶輕松滿足車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品對(duì)質(zhì)量與可靠性的不懈追求。河南可視化MappingOverInk處理軟件

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競(jìng)爭越來越激烈的市場(chǎng)氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！