據(jù)流傳的資料顯示，這項(xiàng)計(jì)劃包括EDA設(shè)計(jì)、材料、材料的生產(chǎn)制造、工藝、設(shè)計(jì)、半導(dǎo)體制造、芯片封測(cè)等在內(nèi)的各個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)，實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體技術(shù)的***自主可控。 [10]外媒聲音1、日本《日經(jīng)亞洲評(píng)論》8月12日文章稱(chēng)，中國(guó)招聘了100多名前臺(tái)積電工程師以力爭(zhēng)獲得芯片（產(chǎn)業(yè)）**地位 。作為全世界比較大的芯片代工企業(yè)，臺(tái)積電成為中國(guó)（大陸）求賢若渴的芯片項(xiàng)目的首要目標(biāo)。高德納咨詢(xún)半導(dǎo)體分析師羅杰·盛（音）說(shuō)：“中國(guó)芯片人才依然奇缺，因?yàn)樵搰?guó)正在同時(shí)開(kāi)展許多大型項(xiàng)目。人才不足是制約半導(dǎo)體發(fā)展的瓶頸。 [7]在一個(gè)自排列（CMOS）過(guò)程中，所有門(mén)層（多晶硅或金屬）穿過(guò)擴(kuò)散層的地方形成晶體管。奉賢區(qū)智能電阻芯片批量定制

1965-1978年 創(chuàng)業(yè)期1965年，***批國(guó)內(nèi)研制的晶體管和數(shù)字電路在河北半導(dǎo)體研究所鑒定成功。1968年，上海無(wú)線電十四廠**制成PMOS（P型金屬-氧化物-半導(dǎo)體）集成電路。1970年，北京878廠、上海無(wú)線電十九廠建成投產(chǎn)。 [17]1972年，**塊PMOS型LSI電路在四川永川一四二四研究所制。1976年，中科院計(jì)算所采用中科院109廠（現(xiàn)中科院微電子研究所）研制的ECL（發(fā)射極耦合邏輯電路），研制成功1000萬(wàn)次大型電子計(jì)算機(jī)。 [5]1978-1989年 探索前進(jìn)期1980年，**條3英寸線在878廠投入運(yùn)行。金山區(qū)個(gè)性化電阻芯片現(xiàn)價(jià)更為少見(jiàn)的電感結(jié)構(gòu)，可以制作芯片載電感或由回旋器模擬。

通常集成電路芯片故障檢測(cè)必需的模塊有三個(gè)：源激勵(lì)模塊，觀測(cè)信息采集模塊和檢測(cè)模塊。源激勵(lì)模塊用于將測(cè)試向量輸送給集成電路芯片，以驅(qū)使芯片進(jìn)入各種工作模式。通常要求測(cè)試向量集能盡量多的包含所有可能的輸入向量。觀測(cè)信息采集模塊負(fù)責(zé)對(duì)之后用于分析和處理的信息進(jìn)行采集。觀測(cè)信息的選取對(duì)于故障檢測(cè)至關(guān)重要，它應(yīng)當(dāng)盡量多的包含故障特征信息且容易采集。檢測(cè)模塊負(fù)責(zé)分析處理采集到的觀測(cè)信息，將隱藏在觀測(cè)信息中的故障特征識(shí)別出來(lái)，以診斷出電路故障的模式。

任正非早就表示：華為很像一架被打得千瘡百孔的飛機(jī)，正在加緊補(bǔ)洞，現(xiàn)在大多數(shù)洞已經(jīng)補(bǔ)好，還有一些比較重要的洞，需要兩三年才能完全克服。隨著禁令愈加嚴(yán)苛，要補(bǔ)的洞越來(lái)越多， [10]余承東是承認(rèn)，當(dāng)初只做設(shè)計(jì)不做生產(chǎn)是個(gè)錯(cuò)誤，除了補(bǔ)洞更要拓展新的領(lǐng)地。華為和合作伙伴正在朝這個(gè)方向走去——華為的計(jì)劃是做IDM，業(yè)內(nèi)人士對(duì)投中網(wǎng)表示。 [10]IDM，是芯片領(lǐng)域的一種設(shè)計(jì)生產(chǎn)模式，從芯片設(shè)計(jì)、制造、封裝到測(cè)試，覆蓋整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈。 [10]一方面，華為正在從芯片設(shè)計(jì)向上游延伸。余承東曾表示，華為將***扎根，突破物理學(xué)材料學(xué)的基礎(chǔ)研究和精密制造。 [10]華為消費(fèi)者業(yè)務(wù)成立專(zhuān)門(mén)部門(mén)做屏幕驅(qū)動(dòng)芯片，進(jìn)軍屏幕行業(yè)。早前，網(wǎng)絡(luò)爆出華為在內(nèi)部開(kāi)啟塔山計(jì)劃：預(yù)備建設(shè)一條完全沒(méi)有美國(guó)技術(shù)的45nm的芯片生產(chǎn)線，同時(shí)還在探索合作建立28nm的自主技術(shù)芯片生產(chǎn)線。小型集成電路（SSI英文全名為Small Scale Integration）邏輯門(mén)10個(gè)以下或晶體管100個(gè)以下。

晶圓測(cè)試經(jīng)過(guò)上面的幾道工藝之后，晶圓上就形成了一個(gè)個(gè)格狀的晶粒。通過(guò)針測(cè)的方式對(duì)每個(gè)晶粒進(jìn)行電氣特性檢測(cè)。一般每個(gè)芯片的擁有的晶粒數(shù)量是龐大的，組織一次針測(cè)試模式是非常復(fù)雜的過(guò)程，這要求了在生產(chǎn)的時(shí)候盡量是同等芯片規(guī)格構(gòu)造的型號(hào)的大批量的生產(chǎn)。數(shù)量越大相對(duì)成本就會(huì)越低，這也是為什么主流芯片器件造價(jià)低的一個(gè)因素。封裝將制造完成晶圓固定，綁定引腳，按照需求去制作成各種不同的封裝形式，這就是同種芯片內(nèi)核可以有不同的封裝形式的原因。比如：DIP、QFP、PLCC、QFN等等。這里主要是由用戶(hù)的應(yīng)用習(xí)慣、應(yīng)用環(huán)境、市場(chǎng)形式等**因素來(lái)決定的。中間的數(shù)字是功能型號(hào)。像MC7805和LM7805，從7805上可以看出它們的功能都是輸出5V，只是廠家不一樣。上海個(gè)性化電阻芯片量大從優(yōu)

具體工藝是從硅片上暴露的區(qū)域開(kāi)始，放入化學(xué)離子混合液中。奉賢區(qū)智能電阻芯片批量定制

在使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）包裝前，每個(gè)設(shè)備都要進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試過(guò)程稱(chēng)為晶圓測(cè)試或晶圓探通。晶圓被切割成矩形塊，每個(gè)被稱(chēng)為晶片（“die”）。每個(gè)好的die被焊在“pads”上的鋁線或金線，連接到封裝內(nèi)，pads通常在die的邊上。封裝之后，設(shè)備在晶圓探通中使用的相同或相似的ATE上進(jìn)行終檢。測(cè)試成本可以達(dá)到低成本 產(chǎn)品的制造成本的25%，但是對(duì)于低產(chǎn)出，大型和/或高成本的設(shè)備，可以忽略不計(jì)。在2005年，一個(gè)制造廠（通常稱(chēng)為半導(dǎo)體工廠，常簡(jiǎn)稱(chēng)fab，指fabrication facility）建設(shè)費(fèi)用要超過(guò)10億美元，因?yàn)榇蟛糠植僮魇亲詣?dòng)化的。 [1]奉賢區(qū)智能電阻芯片批量定制

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